期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
亚0.1μm栅长CMOS器件和电路的研制 被引量:1
1
作者 刘文安 黄如 张兴 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第5期583-588,共6页
利用侧墙图形转移实现亚 0 .1μm栅线条 ,重掺杂多晶硅做固相扩散源实现 CMOS晶体管超浅源漏扩展区 ,并且将二者有机结合起来 ,成功实现了栅长约为 84 .6 nm的 CMOS器件和电路 .报道了利用重掺杂多晶硅固相扩散同时实现 CMOS源漏扩展区... 利用侧墙图形转移实现亚 0 .1μm栅线条 ,重掺杂多晶硅做固相扩散源实现 CMOS晶体管超浅源漏扩展区 ,并且将二者有机结合起来 ,成功实现了栅长约为 84 .6 nm的 CMOS器件和电路 .报道了利用重掺杂多晶硅固相扩散同时实现 CMOS源漏扩展区的方法 . 展开更多
关键词 侧墙图形转移技术 固相扩散 源漏扩展区
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部