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亚0.1μm栅长CMOS器件和电路的研制
被引量:
1
1
作者
刘文安
黄如
张兴
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第5期583-588,共6页
利用侧墙图形转移实现亚 0 .1μm栅线条 ,重掺杂多晶硅做固相扩散源实现 CMOS晶体管超浅源漏扩展区 ,并且将二者有机结合起来 ,成功实现了栅长约为 84 .6 nm的 CMOS器件和电路 .报道了利用重掺杂多晶硅固相扩散同时实现 CMOS源漏扩展区...
利用侧墙图形转移实现亚 0 .1μm栅线条 ,重掺杂多晶硅做固相扩散源实现 CMOS晶体管超浅源漏扩展区 ,并且将二者有机结合起来 ,成功实现了栅长约为 84 .6 nm的 CMOS器件和电路 .报道了利用重掺杂多晶硅固相扩散同时实现 CMOS源漏扩展区的方法 .
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关键词
侧墙图形转移技术
固相扩散
源漏扩展区
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职称材料
题名
亚0.1μm栅长CMOS器件和电路的研制
被引量:
1
1
作者
刘文安
黄如
张兴
机构
北京大学微电子学研究所
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第5期583-588,共6页
基金
国家重点基础研究发展规划 (批准号 :G2 0 0 0 0 3 65 0 1)
国家自然科学基金(批准号 :90 2 0 70 0 4)资助项目~~
文摘
利用侧墙图形转移实现亚 0 .1μm栅线条 ,重掺杂多晶硅做固相扩散源实现 CMOS晶体管超浅源漏扩展区 ,并且将二者有机结合起来 ,成功实现了栅长约为 84 .6 nm的 CMOS器件和电路 .报道了利用重掺杂多晶硅固相扩散同时实现 CMOS源漏扩展区的方法 .
关键词
侧墙图形转移技术
固相扩散
源漏扩展区
Keywords
spacer pattern shift technology
solid phase diffusion
source and drain extension
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
亚0.1μm栅长CMOS器件和电路的研制
刘文安
黄如
张兴
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004
1
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