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GA系列砷化镓射频倍频芯片
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作者 折晓慧 《国外电子元器件》 1996年第12期13-16,共4页
GA01/02/03是美国CONNORWINFIED公司生产的射频PLL倍频芯片,在低频晶振后接该芯片,可得到与低频晶振稳定度相同而成本很低的115~820MHz信号。本文介绍了该系列芯片的构成、外接环路滤波器的设... GA01/02/03是美国CONNORWINFIED公司生产的射频PLL倍频芯片,在低频晶振后接该芯片,可得到与低频晶振稳定度相同而成本很低的115~820MHz信号。本文介绍了该系列芯片的构成、外接环路滤波器的设计方法。 展开更多
关键词 砷化镓 压控振荡器 射频 倍频芯片
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一种10~20GHz宽带二倍频放大芯片设计
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作者 傅琦 高显 《通信电源技术》 2023年第8期22-24,共3页
基于砷化镓赝配高电子迁移率晶体管(pseudomorphic High Electron Mobility Transistor,pHEMT)工艺,进行了覆盖10~20 GHz宽带二倍频放大芯片的设计,着重分析了在本振链路中基波和三次谐波产生的原因和抑制方法。基于差分电路,设计了一... 基于砷化镓赝配高电子迁移率晶体管(pseudomorphic High Electron Mobility Transistor,pHEMT)工艺,进行了覆盖10~20 GHz宽带二倍频放大芯片的设计,着重分析了在本振链路中基波和三次谐波产生的原因和抑制方法。基于差分电路,设计了一款不含滤波器且基波频率为10~20 GHz宽带二倍频放大芯片。该芯片通过探针台在片测试,证实在工作频带内,基波和三次谐波抑制均优于35 dBc,倍频损耗优于-0.5 dB。 展开更多
关键词 砷化镓 倍频放大芯片 差分电路
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晶振失效故障分析 被引量:2
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作者 张富尧 《电子技术与软件工程》 2017年第14期93-94,共2页
本文通过对无输出晶振的失效分析,确定了失效原因。由于该晶振内部锁相倍频集成芯片性能不良导致。使用有延时的DC-DC电源对晶振进行加电测试,发现失效问题,可在早期解决这一问题。
关键词 晶体振荡器 振荡电路 锁相倍频芯片
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