一类偏微分算子组广义次谱的显式上界

借助微分算子谱理论,对一类偏微分算子组低阶离散谱进行估计,利用Laplace算子的运算性质、分部积分、测试函数、Rayleigh定理和Schwarz不等式等技巧,发现这类算子组主谱与其相应特征向量之间存在的不等式关系,证明所选择的测试函数与主谱、空间维数间的关系,最终获得用主谱来估计次谱上界的一个显式不等式,结果显示其界仅与空间维数有关,而与区域的几何度量无关,其结论是参考文献结论的进一步推广。