高精度偏振依赖损耗自动测试系统

光学器件的偏振依赖损耗（PDL）是发展光纤通信必须克服的关键技术之一。该文介绍了一种新型的高精度偏振依赖损耗自动测试系统，系统中采用耦合器和监测功率计，实现了单次接入即可完成偏振依赖损耗的测量，消除了系统光功率稳定性对测试结果的影响。在同一系统中，可实现多种方法测试偏振依赖损耗，采用偏振控制器的延迟补偿技术实现了全波段内的偏振依赖损耗高精度测试。系统工作波长范围为1200～1600nm，偏振依赖损耗测量范围0～5dB，测量不确定度高达0．005dB＋PDL×4％，可满足各种光学器件偏振依赖损耗测试需要。

光无源器件偏振依赖损耗的测试方法

介绍了光无源器件偏振依赖损耗的几种测试方法,并对它们的优缺点进行了比较。

基于45°倾斜光纤光栅的线偏振输出掺镱光纤激光器

对工作于1064nm波段的45°倾斜光纤光栅的偏振依赖损耗特性与工作机理进行了分析．利用紫外曝光法，将周期为1070nm的常规相位模板旋转33°后，在光敏光纤上写制了45°倾斜光纤光栅，写制的光栅栅区长度为12mm，在1040～1085nm范围内偏振依赖损耗值为7dB左右．影响其偏振依赖损耗值的主要原因为相位模板的周期不是最佳值和栅区长度不够．利用写制的45。倾斜光纤光栅作为起偏器件，实现了线偏振输出的掺镱光纤激光器，其激光消光比高于30dB，输出波长为1065．4nm，3dB线宽为0．08nm，最高输出功率8．7mW，可长时间保持高偏振度稳定工作．

采用1×4光纤耦合器的光时分复用系统偏振敏感性实验研究

采用了两个1×4的光纤耦合器制成了4×10GHz的光时分复用器,通过对该光时分复用器产生的40GHz的信号的偏振敏感性进行了研究。

倾斜光纤Bragg光栅偏振特性理论分析

基于耦合模理论与Mueller矩阵方法,理论分析了倾斜光纤Bragg光栅(TFBG)的偏振特性.推导计算了不同倾斜角度下,TFBG的波长相关偏振依赖损耗(PDL)表达式.比较不同倾斜角度下的计算结果,发现45°的TFBG偏振能力强于其他较小倾斜角度的TFBG.同时,计算了非偏振光通过TFBG后的偏振度,以探讨各种倾斜角度的偏振特性.另外,讨论了TFBG的几种物理参数与其偏振能力间的关系.

用于1064nm波段的45°倾斜光纤光栅的研制及其偏振特性研究

研究分析了45°倾斜光纤光栅的工作机理。利用紫外曝光法，将周期为1070nm的相位模板旋转一定角度后，在光敏光纤上成功写制了45°倾斜光纤光栅，通过拼接写制技术，写制的光栅栅区长度为24mm。对写制的45°倾斜光纤光栅的偏振依赖损耗特性进行了研究，在1064nm处偏振依赖损耗值为11．8dB，在1050～1100nm范围内的偏振依赖损耗值保持在9dB以上。导致其偏振依赖损耗值偏低的主要原因为相位模板的周期不匹配以及光栅栅区长度不够。经过优化后该器件可作为光纤起偏器件使用。