青光眼视网膜神经纤维损害激光偏振光扫描测量的价值

目的:探讨青光眼的视网膜神经纤维层缺损特征,评价激光偏振光扫描测量仪(GDxVCC)在青光眼早期诊断方面的应用价值。方法:采用激光偏振光扫描测量仪(GDxVCC,美国)对60例110眼正常人及46例85眼青光眼患者视网膜后极部水平方向40°、垂直方向20°范围进行激光偏振光扫描测量视网膜神经纤维层厚度(RNFL),同时进行中央30°视网膜光阈值检查(Humphrey视野分析仪,Central30-2thresholdtest,美国),并对结果进行统计分析。结果:正常眼RNFL厚度与性别、眼别无关,而与年龄呈负相关;各期青光眼患者的RNFL均值显著低于正常对照组(年龄匹配,P<0.01);早期、进展期、晚期青光眼患者的RNFL厚度均值比较也有显著性差异(P<0.001)。GDxVCC检测RNFL厚度值与Humphrey视野检查指数平均缺损值(MD)具显著正相关性(r=0.795,P<0.001)。青光眼的视网膜神经纤维层图像可表现为局限性变薄或缺损(85.2%)、弥漫性变薄(6.6%)、弥漫性变薄并局限性缺损(8.2%),以鼻上方的局限性变薄或缺损最常见(56.7%)。有23.3%的早期青光眼患者视野检测正常而GDxVCC检测发现有不同程度的视网膜神经纤维层缺损。结论:GDxVCC能准确定量检测RNFL厚度值,视网膜神经纤维层的检测能比视野检测更早地发现青光眼的视神经的损害,因而可作为青光眼患者早期诊断的重要指标之一。随着青光眼患者病情的发展,RNFL厚度逐渐变薄,视野的平均缺损值逐渐增加。GDxVCC联合视野检查对于追踪青光眼患者的病情变化,确立靶眼压的水平,制定个性化的治疗方案有着重要的价值。

分子束外延法在Sapphire衬底上生长的Zn_(1-x)Mg_xO薄膜折射率及厚度的测试

利用偏振光椭圆率测量仪对分子束外延(MBE)法在Sapphire衬底上生长的Zn1-xMgxO薄膜的薄膜折射率和厚度进行了测试.结合ICP法测得的薄膜中的Mg组成量,经数值拟合,导出表征薄膜厚度与薄膜生长条件、薄膜折射率与薄膜中的Mg组成量之间关系的曲线,为MBE法在Sapphire衬底上生长Zn1-xMgxO薄膜时控制薄膜厚度以及在制作Zn1-xMgxO薄膜的波导时控制薄膜的折射率提供了理论依据.