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ZnO晶体的偏振拉曼散射的深入研究 被引量:10
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作者 刘洁 蒋毅坚 《光散射学报》 2007年第4期330-336,共7页
利用拉曼选择定则,设计了ZnO单晶的直角偏振几何配置。在室温下测量了ZnO单晶的各种振动模式的偏振拉曼散射光谱。与原先的文献相比较,初步讨论了各种振动模式的线宽和强度的变化原因。除ZnO晶体中包括非极性和极性拉曼基频振动,准横光... 利用拉曼选择定则,设计了ZnO单晶的直角偏振几何配置。在室温下测量了ZnO单晶的各种振动模式的偏振拉曼散射光谱。与原先的文献相比较,初步讨论了各种振动模式的线宽和强度的变化原因。除ZnO晶体中包括非极性和极性拉曼基频振动,准横光学和准纵光学模式和振动属性被指认外,它们的高阶拉曼散射模式首先被确定。本研究结果为深入了解ZnO晶体和薄膜的宏观性质和微观结构提供了依据。 展开更多
关键词 ZNO单晶 偏振拉曼散射 拉曼基频动模 拉曼高阶动模
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基于偏振拉曼散射光谱的4H-SiC晶体各向异性特性研究 被引量:5
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作者 赵帝舒 王芳泽 +2 位作者 万玲玉 杨庆怡 冯哲川 《光散射学报》 2018年第2期133-138,共6页
采用背向散射偏振配置,对半极性a面(1120)生长的4H-SiC晶体,测量了激发光偏振方向与光轴成不同角度时各声子振动的偏振拉曼散射光谱,研究了不同声子模式的偏振拉曼散射光的强度变化与性质。利用拉曼选择定则,对实验结果进行拟合分析得... 采用背向散射偏振配置,对半极性a面(1120)生长的4H-SiC晶体,测量了激发光偏振方向与光轴成不同角度时各声子振动的偏振拉曼散射光谱,研究了不同声子模式的偏振拉曼散射光的强度变化与性质。利用拉曼选择定则,对实验结果进行拟合分析得到了不同声子模式的拉曼散射矩阵张量元系数及其各向异性特征。研究结果为深入了解4H-SiC晶体的微观结构和各向异性性质提供依据。 展开更多
关键词 碳化硅 偏振拉曼散射 张量元 各向异性
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氧化锌晶体的偏振拉曼散射研究
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作者 刘武 《机械工程师》 2015年第11期65-66,共2页
利用拉曼选择定则,设计了A面Zn O单晶的背向偏振几何配置。测量了单晶Zn O在6种偏振配置下的拉曼散射光谱。与原先的文献相比较,初步讨论了各种振动模式出现或不可出现的原因。该研究结果为深入了解Zn O晶体和薄膜的宏观性质和微观结构... 利用拉曼选择定则,设计了A面Zn O单晶的背向偏振几何配置。测量了单晶Zn O在6种偏振配置下的拉曼散射光谱。与原先的文献相比较,初步讨论了各种振动模式出现或不可出现的原因。该研究结果为深入了解Zn O晶体和薄膜的宏观性质和微观结构提供了依据。 展开更多
关键词 ZN O单晶 偏振拉曼散射 拉曼基频动模
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偏振拉曼散射研究ZnO单晶纳米压痕区内的晶格畸变分布
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作者 刘洁 蒋毅坚 《光散射学报》 北大核心 2012年第4期361-366,共6页
通过结合纳米压痕和偏振拉曼散射技术对压应力影响下ZnO单晶晶格出现的变化进行了研究。位错的滑移是导致ZnO单晶中出现多处塑性变形的原因而非相变。之后采用偏振拉曼Mapping成像技术以E2(high)模为对象,监视其在整个压痕区内的强度变... 通过结合纳米压痕和偏振拉曼散射技术对压应力影响下ZnO单晶晶格出现的变化进行了研究。位错的滑移是导致ZnO单晶中出现多处塑性变形的原因而非相变。之后采用偏振拉曼Mapping成像技术以E2(high)模为对象,监视其在整个压痕区内的强度变化分布。在压痕区中心累积的应力通过位错的滑移而释放,同时导致压痕区中心处的晶格畸变程度最为严重。伴随着晶格失配的加剧,拉曼选择定则放宽,在Z(XX)Z-配置下较弱的LO得到增强,原本非拉曼活性的B1(high)模出现。此外,在Z(XY)Z-偏振下压痕区左侧的拉曼光谱中观察到位于130cm-1处的拉曼异常振动模。此峰的出现可能与压痕区左侧由刃位错所形成的应力场吸引间隙离子导致的晶格畸变有关。 展开更多
关键词 ZNO单晶 塑性形变 纳米压痕 偏振拉曼散射
原文传递
02(1△) Yield Measurement by Raman Spectroscopy With Elimination of Chlorine Fluorescence Interference
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作者 Rong-rong Cui Wen-bo Shi +3 位作者 Lie-zheng Deng He-ping Yang Guo-he Sha Cun-hao Zhang 《Chinese Journal of Chemical Physics》 SCIE CAS CSCD 2012年第2期142-146,I0003,共6页
Deleterious chlorine fluorescence was found to occur at the same frequency as the Raman scattering of 02 (1 A) and 02 (3 E), seriously affecting the 02 (1 A) yield measurement in the reaction of chlorine with ba... Deleterious chlorine fluorescence was found to occur at the same frequency as the Raman scattering of 02 (1 A) and 02 (3 E), seriously affecting the 02 (1 A) yield measurement in the reaction of chlorine with basic hydrogen peroxide by use of the Raman spectroscopy technique. To solve this problem we have taken advantage of the fact that Raman radiation is always strongly polarized while fluorescence is essentially non-polarized in a gaseous medium. When chlorine utilization of a singlet oxygen generator is 88%, 02(1A) yield reaches (42.4±7.4)% with the effect of chlorine fluorescence completely eliminated. 展开更多
关键词 Chemical oxygen iodine laser Singlet oxygen yield Spontaneous Raman spec-troscopy Chlorine fluorescence
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