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椭偏仪的原理和应用 被引量：12
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作者 余平 张晋敏 《合肥学院学报（自然科学版）》 2007年第1期87-90,共4页
椭偏术是一种利用线偏振光经样品反射后转变为椭圆偏振光这一性质以获得样品的光学常数的光谱测量方法.椭偏仪主要用来测量薄膜材料或块体材料的光学参数和厚度的仪器.
关键词 椭偏仪 光学参数 薄膜 偏振drude模型
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