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用单片机精确测量线阵CCD上像点位置的原理和方法 被引量:2
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作者 曾吉荣 杨齐民 王威廉 《激光杂志》 CAS CSCD 北大核心 1998年第3期32-34,共3页
本文指出利用线阵CCD摄像进行精密测量,具有无接触,实时和便于与计算机结合的优点。在许多测量中常可归结为精确测量CCD上像点的位置。我们详细报道了用单片机完成这种测量的原理,方法和数据处理,接口电路及工作程序。同时报... 本文指出利用线阵CCD摄像进行精密测量,具有无接触,实时和便于与计算机结合的优点。在许多测量中常可归结为精确测量CCD上像点的位置。我们详细报道了用单片机完成这种测量的原理,方法和数据处理,接口电路及工作程序。同时报道了测量金属板位移和板厚的实验装置和结果。 展开更多
关键词 线阵CCD 像点脉冲位置 单片机 电荷耦合器件
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