连续激光辐照CMOS相机的像素翻转效应及机理

为了研究激光对CMOS图像传感器的干扰效果,利用632.8 nm连续激光开展了对CMOS相机的饱和干扰实验。随着入射激光功率的增加,分别观察到未饱和、饱和、全屏饱和等现象,并发现,在全屏饱和前,功率密度达到1.4 W/cm^2后,光斑强区中心区域出现了像素翻转效应。进一步加大光敏面激光功率密度到95.1 W/cm2,激光作用停止后相机仍能正常成像,证明像素翻转效应并非源自硬损伤。基于CMOS相机芯片的结构和数据采集处理过程进行了机理分析,认为强光辐照产生的过量光生载流子使得光电二极管电容上原来充满的电荷被快速释放,使得相关双采样中的两次采样所得信号V_(reset)与V_(signal)逐渐接近,是输出像素翻转的一种可能原因。

打印扫描不变的多轮廓像素翻转文本图像水印算法

基于打印扫描不变量,提出一种多轮廓像素翻转的文本图像水印算法,其中包含三个措施:提出一种水印压缩预处理方法,通过压缩水印信息,在总嵌入容量一定的情况下,增加水印嵌入的次数,从而提高水印鲁棒性;提出多轮廓像素翻转策略,降低水印错误嵌入的可能性,进一步提高水印鲁棒性;以打印扫描不变量为特征值,结合离散余弦变换和多轮廓像素翻转策略提出一种优化的双域结合的水印嵌入及提取算法,在保证水印不可见性的同时,提高水印抵抗打印扫描攻击的能力。实验表明,本文算法能够在保证水印不可见性的前提下,提高水印对打印扫描攻击的鲁棒性,同时也能够抵抗常见的图像攻击。