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一种新概念平行光管 被引量:5
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作者 曹根瑞 朱秋东 苏鹏 《北京理工大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第4期453-456,共4页
提出一种基于波前径向斜率测量原理的适用于测量大口径成像光学系统像差的自基准新方法.用该方法毋需任何人工或天然的无限远目标或标准大平面反射镜提供测量基准.理论分析和实验结果表明,此方法的技术可行性强,波像差测量灵敏度与干涉... 提出一种基于波前径向斜率测量原理的适用于测量大口径成像光学系统像差的自基准新方法.用该方法毋需任何人工或天然的无限远目标或标准大平面反射镜提供测量基准.理论分析和实验结果表明,此方法的技术可行性强,波像差测量灵敏度与干涉法相当,而对工作环境和光源无苛刻要求,可用于特大口径光学系统,如航天遥感相机、天文望远镜和大口径抛物面镜等大型光学系统的像质检测,也可用于主动光学系统的波前传感. 展开更多
关键词 波前径向斜率测量 泽尼克多项式拟合 像质检验
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自基准哈特曼波前测量装置的研制 被引量:2
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作者 刘春阳 朱秋东 《光学技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第1期98-99,104,共3页
采用自基准哈特曼径向斜率测量原理,设计了旋转加摩擦线性移动扫描机构,对被测波前进行连续极坐标扫描采样;用CCD相机采集光斑图像,经波面径向斜率计算和泽尼克径向斜率多项式最小二乘拟合,求出被测波面的泽尼克系数和波前畸变值。与干... 采用自基准哈特曼径向斜率测量原理,设计了旋转加摩擦线性移动扫描机构,对被测波前进行连续极坐标扫描采样;用CCD相机采集光斑图像,经波面径向斜率计算和泽尼克径向斜率多项式最小二乘拟合,求出被测波面的泽尼克系数和波前畸变值。与干涉仪测量结果进行了比较,所以研制的波前测量装置可满足大口径光学系统的像质测量。 展开更多
关键词 光学测量 哈特曼检验 径向斜率检验 像质检验
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Pixel and Column Fixed Pattern Noise Suppression Mechanism in CMOS Image Sensor 被引量:5
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作者 徐江涛 姚素英 李斌桥 《Transactions of Tianjin University》 EI CAS 2006年第6期442-445,共4页
A double sampling circuit to eliminating fixed pattern noise(FPN) in CMOS image sensor (CIS) is presented. Double sampling is implemented by column switch capacitor amplifier directly, and offset compensation is added... A double sampling circuit to eliminating fixed pattern noise(FPN) in CMOS image sensor (CIS) is presented. Double sampling is implemented by column switch capacitor amplifier directly, and offset compensation is added to the amplifier to suppress column FPN. The amplifier is embedded in a 64×64 CIS and successfully fabricated with chartered 0.35 μm process. Theory analysis and circuit simulation indicate that FPN can be suppressed from millivolt to microvolt. Test results show that FPN is smaller than one least-significant bit of 8 bit ADC. FPN is reduced to an acceptable level with double sampling technique implemented with switch capacitor amplifier. 展开更多
关键词 CMOS image sensor active pixel fixed pattern noise double sampling offset compensation
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Photodetection of the Quality on Internal Surface of Steel Pipe
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作者 MA Hong CHE Ying +1 位作者 SHEN Yuzhi BAI Baoxing(Changchun Institute of Optics and Fine Mechanics,Changchun 130022,CHN) 《Semiconductor Photonics and Technology》 CAS 1996年第2期150-154,136,共6页
In this paper,a photoelectric device is introduced,which is used in detecting the quality on internal surface of thin and long steel pipe.In this device,the CCTV lens is used for extract tile flaw information on inter... In this paper,a photoelectric device is introduced,which is used in detecting the quality on internal surface of thin and long steel pipe.In this device,the CCTV lens is used for extract tile flaw information on internal surface of the pipe,and make IBM-PC/AT 486 computer as controlling and image processing system.By this instrument,the functions,such as the digital conversion of input information,image processing,classification of recognition and output display can be obtained.In the petroleum and chemical industry,by using this apparatus,we can detect the quality on internal surface of various metal pipes with real-time automatically. 展开更多
关键词 Flaw Detection Image Processing Quality Control
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自参考平板剪切干涉技术的研究
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作者 赵明山 李国华 张敬斌 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 1993年第3期131-131,共1页
平板剪切干涉技术是目前光学检测,测量及像质检验等领域中常用的干涉技术。现行的平板剪切干涉装置有两种形式:一是平行平板剪切干涉,另一类是楔形平板剪切干涉。前者利用无限宽条纹判定光束的准直性,精度受光束直径的限制较大;
关键词 干涉技术 剪切干涉 自参考 光学检测 像质检验 干涉装置 平行平板 准直性 光束直径 楔形平板
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