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新一代X射线探测器在射线实时成像检测中的应用
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作者 李衍 《无损检测》 北大核心 2006年第9期488-490,492,共4页
介绍非晶硅(a-Si)平板探测器的技术特性,及其取代常用的图像增强器在焊缝和铸件的工业射线实时成像(RTR)检测中的应用。试验结果证明,选用适当型号的a-Si平板探测器,可获得优于图像增强器的像质计(IQI)灵敏度和空间分辨率。
关键词 非晶硅(a-Si) 平板探测器 图像增强器 射线实时成像 射线直接数字成像 像质计灵 敏度 空间分辨率
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