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TCAS系统元件级深度维修测试设备研发 被引量:3
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作者 王力 《微计算机信息》 北大核心 2007年第05S期234-235,246,共3页
目前TCAS处理器测试系统可以进行板卡级测试,不能进行元件级的深度测试与维修。本文分析对TCAS系统故障板卡的元件级深度测试和维修,实现对TCAS系统主要板卡的元件级故障测试、定位与维修,测试系统经调试与运行,效果良好。
关键词 TCAS 元件级测试修理 测试系统 航空电子系统
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