基于单片机的通用元器件测试设备的设计

针对设备维修的基础操作,降低元器件检测维修的技术入门门槛,提高自学维修的效果,设计了基于单片机的通用元器件测试设备。系统采用ATMEGA644P作为主控,通过IO接口对输入输出通道进行控制,通过内置的A/DC接口对目标元件进行电压采样,由CPU进行相应的算法处理,分析元器件类型,计算元器件参数,将结果通过LCD液晶屏显示,并可以根据识别的元器件显示相关帮助提示信息。设备可以自动识别二极管、三极管、电容、电阻、电感等常用元器件,并可测量相关参数,该设备功能多、响应快、扩展能力强、教学能力强。

元器件测试筛选先后次序的决定原则

从元器件失效的原理出发,叙述了分析元器件失效的具体失效模式与引起各种元器件失效的失效模式之间的相互关联性、各种元器件测试筛选方法可能引发的元器件失效模式,以及不同元器件测试筛选先后次序对最终测试结果的影响,从理论上推导出一种较好的决定元器件测试筛选先后次序的原则。实践表明,应用这种原则,可以最大限度提高测试筛选的有效性和经济性,在最短时间内迅速找出有有缺陷、质量不符合要求的产品,而且失效模式定位准确,为查明失效的产生机理提供数据支持,是一种有效的安排元器件测试筛选先后次序的原则。

元器件测试实验室样品管理的特点与实施方案

测试实验室样品管理如同一根看不见的线,把整个检测工作串联起来,使得实验室各项工作环环相扣,有条不紊展开。文章首先介绍了样品管理的基本原则,元器件测试实验室的特点,进而提出一套切实可行的样品管理流程,详细叙述流程的各个环节的工作要求,以及关键环节的注意事项。还重点介绍了检测流程卡的制作和条件保证盒的作用。

整机企业电子元器件测试系统选型

文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和"小而全"测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型测试系统和大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和评价提出了看法。

集成电路测试技术与应用

通过对IMS公司生产的集成电路测试系统ATS的描述,讨论了集成电路(IC)的测试技术及其在ATS上的应用方法,并以大规模集成电路芯片8255为例,给出一种芯片在该集成电路测试系统上从功能分析到具体测试的使用过程。

安捷伦推动中国本土测试测量科技创新

第二届安捷伦科技节近日在上海外高桥安捷伦科技上海园区拉开序幕，并同时宣布在上海成立安捷伦生命科学与化学分析卓越客户中心。安捷伦科技有限公司总裁兼首席执行官Bill Sullivan专程前往上海借本次科技节，深度解析了安捷伦中国战略和测试测量行业趋势。