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基于热像仪电路开发环境的单片机功能测试技术研究
1
作者
孙娟
梁坚
+1 位作者
何浚
郑文云
《云光技术》
2015年第2期34-39,共6页
根据热像仪对C8051F系列单片机的功能应用需求,基于电路开发环境开展了单片机功能测试技术研究。以热像仪用单片机的电路开发环境为基础设计测试硬件电路,通过软件编程控制单片机完成各种功能,根据测试结果判断单片机功能的正确性,...
根据热像仪对C8051F系列单片机的功能应用需求,基于电路开发环境开展了单片机功能测试技术研究。以热像仪用单片机的电路开发环境为基础设计测试硬件电路,通过软件编程控制单片机完成各种功能,根据测试结果判断单片机功能的正确性,实现了C8051F系列单片机的功能检测。
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关键词
热像仪
单片机
功能测试
元器件质量控制
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职称材料
题名
基于热像仪电路开发环境的单片机功能测试技术研究
1
作者
孙娟
梁坚
何浚
郑文云
机构
昆明北方红外技术股份有限公司
出处
《云光技术》
2015年第2期34-39,共6页
文摘
根据热像仪对C8051F系列单片机的功能应用需求,基于电路开发环境开展了单片机功能测试技术研究。以热像仪用单片机的电路开发环境为基础设计测试硬件电路,通过软件编程控制单片机完成各种功能,根据测试结果判断单片机功能的正确性,实现了C8051F系列单片机的功能检测。
关键词
热像仪
单片机
功能测试
元器件质量控制
分类号
TN929.53 [电子电信—通信与信息系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于热像仪电路开发环境的单片机功能测试技术研究
孙娟
梁坚
何浚
郑文云
《云光技术》
2015
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