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晶体薄膜光子隧道显微理论
1
作者
张为权
《浙江工程学院学报》
2003年第4期286-288,共3页
光子隧道像有较高的横向和纵向的分辨率,利用椭圆偏振术,测定晶体薄膜两主反射系数的椭偏参量,能够测定晶体薄膜的光子隧道像。
关键词
光子
隧道
像
晶体薄膜
椭圆偏振术
测定
光子隧道显微技术
下载PDF
职称材料
题名
晶体薄膜光子隧道显微理论
1
作者
张为权
机构
浙江工程学院理学院
出处
《浙江工程学院学报》
2003年第4期286-288,共3页
文摘
光子隧道像有较高的横向和纵向的分辨率,利用椭圆偏振术,测定晶体薄膜两主反射系数的椭偏参量,能够测定晶体薄膜的光子隧道像。
关键词
光子
隧道
像
晶体薄膜
椭圆偏振术
测定
光子隧道显微技术
Keywords
Crystal film
Photon tunneling image
Ellipsometer
分类号
O734 [理学—晶体学]
TH742 [机械工程—光学工程]
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职称材料
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作者
出处
发文年
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1
晶体薄膜光子隧道显微理论
张为权
《浙江工程学院学报》
2003
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