基于偏振调制技术的晶体各向异性参数实时检测系统

介绍了基于偏振光电光调制技术对人工晶体各向异性参数的检测,设计了半嵌入式的微机实时检测系统,可完成对晶体光学双折射与二向色性特征参数计算分析,并可检测晶体缺陷。