先进光谱椭偏测量技术及其在OLED中的应用

阐述光谱椭偏测量技术基本原理和椭偏测量数据分析方法,发展宽光谱穆勒矩阵椭偏仪等先进光谱椭偏测量技术和仪器。利用光谱椭偏测量技术精确标定典型OLED(organic light-emitting diode)材料基础光学数据,分析揭示有机材料分子取向及其导致的光学各向异性。构建复杂叠层有机发光器件光学计算模型,模拟分析其关键性能参数,提出光学协同优化设计方法,指导高性能OLED器件设计。结果和讨论展示了光谱椭偏技术在OLED材料与器件表征以及高性能OLED器件设计中的应用。