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题名0.2微米光学计示值误差检定方法及误差分析
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作者
林伟光
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机构
桂林市计量测试研究所
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出处
《上海计量测试》
1996年第4期28-28,33,共2页
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文摘
《0.2μm光学计检定规程》所述示值误差检定方法为:用二等量块以“配对法”检定。在0~±20μm范围内,每间隔10μm检定一点,超过±20μm的范围,每间隔20μm检定一点。检定时以第一块量块对准零位,第二决量块检定受检点的示值误差,再以第二块量块对准零位,第三块量块检定受检点的示值误差,以此类推,直至所需配对量块的最后一块量块。检定正向刻度时,量块的尺寸按递增方式进行,检定负向刻度时。
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关键词
计量
光学计示值
误差检定
误差分析
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分类号
TB96
[机械工程—光学工程]
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