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PDS显微密度计的性能测试及分析 被引量:1
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作者 邢锦云 左健 +2 位作者 程庭柱 高德平 陈光华 《分析测试技术与仪器》 1994年第3期58-63,共6页
PDS(PhotometricDataAcquisitionSystem)的主要技术指标指的是该仪器的一些性能指标的极限值。由于在实际工作中,光密度精度和坐标精度与仪器的线性、噪声、速度、扫描方向、步长、孔径等参数相... PDS(PhotometricDataAcquisitionSystem)的主要技术指标指的是该仪器的一些性能指标的极限值。由于在实际工作中,光密度精度和坐标精度与仪器的线性、噪声、速度、扫描方向、步长、孔径等参数相互依赖和制约,所以必须弄清它们之间的关系,才能够获得高精度的数据。然而每台PDS显微密度计之间,这些相互制约的性能有很大的离散性,因此使某些参数的选取无固定方式,必须因不同型号的仪器和被研究图象的特征而变。为此,我们对本室引进的精密仪器PDS显微密度计的主要性能进行了测试及分析,获得了较为满意的测试及分析结果,可供PDS用户操作人员参考。 展开更多
关键词 PDS显微密度 性能测试 光度特性 机械性能 光密度精度 位置精度
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