光栅莫尔条纹信号质量的提高及其采集方法

基于对光栅线性传感器(DPROS)和2m光栅检刻机检测系统的研制,该文叙述了一种获取高质量光栅莫尔条纹信号的设计方法,并在数字式量仪的系列开发中得到应用验证.

基于VMD算法的光栅莫尔条纹去噪方法

光栅莫尔条纹的信号质量直接决定其测量精度,将基于变分模态分解(VMD)的方法用于对光栅莫尔条纹信号的去噪处理。首先对莫尔条纹仿真信号进行VMD分解成若干个不同频率段的本征模态函数(IMF);然后利用希尔伯特变换对IMF分量时频特性进行分析,滤除高频噪声信号。结果表明:与经验模态分解(EMD)算法的分解结果相比,VMD算法能够很好地抑制模态混叠现象,准确地将不同频率段的信号分解出来,而且提高了去噪之后信号的信噪比,去噪效果好。

提高光栅莫尔条纹CCD采集质量的噪声处理

为提高CCD采集的光栅莫尔条纹信号质量,采用相关双采样法对CCD采集的莫尔条纹信号进行噪声处理,通过对相关双采样原理进行建模和仿真,验证了此方法在噪声相关程度越大的情况下,对噪声的抑制越好。采用一款内部带有相关双采样电路的AD转换器对CCD输出信号进行采集,使用FPGA产生CCD驱动时序、AD驱动时序和配置时序。使用Verilog HDL语言和Quartus II软件进行时序程序编写和仿真,仿真结果表明了设计的正确性,因此相关双采样去噪法可以应用在莫尔条纹的采集系统中以提高莫尔条纹的信号质量。

光栅莫尔条纹在机床数控改造中的应用研究

从机床数控改造的实际出发,针对我国目前国产机床加工精度普遍不高,数控化程度较低等问题,提出了一种全新的设计方案,利用光栅作为位置检测元件,形成全闭环控制系统,结果表明既能够大大提高零件的加工精度,又能节省改造成本,为机床数控改造提供了参考。

光栅莫尔条纹信号的零位跟踪细分

本文介绍了采用片簧机构实现莫尔条纹零位跟踪的测量方法，可以实现高分辨力的大位移测量。实验所用光栅栅距为０．６２ｍｍ，读数误差小于±０．０４μｍ，相当于实现了５００细分。

基于神经网络的光栅莫尔条纹误差模型参数优化

光栅莫尔条纹的误差模型是一种多峰的复杂正弦波动函数级数形式,单一的基于导数的非线性参数拟合方法可能无效,神经网络方法不依赖于函数导数,仿真实验表明模型参数的拟合符合实际。

单频激光干涉仪条纹调节机构和光栅莫尔条纹调节机构介绍

本文叙述了一米长光栅刻划机中激光干涉仪双光楔条纹调节机构、便携式单频激光干涉仪中弹性浮动条纹调节机构和几种光栅莫尔条纹调节机构的设计原理和使用情况,这些机构的应用,对单频激光干涉仪和光栅传感器的研制有较大的作用。

基于FPGA实现光栅莫尔条纹高倍细分

对光栅莫尔条纹高倍细分技术进行研究。基于FPGA技术,采用基于FPGA的反正切函数优化算法,实现了正切函数法高速、高精度、高倍细分,通过仿真及实验表明,该系统细分倍数高、测量响应速度快,能满足高速、高精度的位移测量系统要求。

长光栅的莫尔条纹

本文讨论莫尔条纹的几何原理,研究长光栅的莫尔条纹方程、条纹的几何(图案)特性和计量特性,并给出光栅莫尔条纹的运动方程,本文市要涉及光栅应用的基础。

基于莫尔条纹实现体全息存储系统的准确寻址

利用光栅莫尔条纹实现角度多重体全息存储系统中精密移动平台的位移检测,有效地削弱该系统寻址的系统误差,提高了全息存储系统的数据读出的准确性。实验中在F_3:LiNbO_3晶体中存储了300幅全息图,各幅全息光栅振幅不仅均匀性好,而且振幅相对较大。

修整电子束形状减轻CRT莫尔条纹

为了减轻高分辨率ＣＲＴ中出现的光栅莫尔条纹，电子束形貌的核部必须是严格的高斯分布。另一方面，尾部的形状对莫尔对比度影响不大。

JFT系列绝对式光栅尺的研发与应用

光栅尺(Linear Encoder),是一种使用光栅莫尔条纹原理进行长度测量的设备,广泛应用数控机床中。如果将控制系统比作高端装备的"大脑",那么光栅尺相当于"眼睛",它在控制系统中起着举足轻重的作用,直接关系到机床加工的精度。

基于单幅干涉图的溶液浓度变化量测量

溶液浓度变化量的测量在材料、生物医学等领域具有重要的研究意义。为快速、非接触地测量溶液浓度的变化量,在马赫曾德干涉仪基础上构建测量光路,采用虚光栅莫尔条纹法处理含有浓度变化信息的单幅干涉图,借助对干涉图中溶液区域外部干涉条纹的分析,解决了常规虚光栅莫尔条纹法难以处理条纹密度分布不均匀的干涉图的问题。实验定量测得了NaCl溶液浓度变化量的分布情况。

用短相干光源测量平行平板玻璃的光学均匀性

为了解决传统干涉绝对测量法不能测量前后表面平行度很好的光学玻璃和晶体均匀性问题,提出了在以短相干光为光源的泰曼-格林干涉仪上,通过调整参考光路的光程,使被测样品的前后表面分别处在零光程差位置,这样从样品两面反射回来的光就不会同时满足和参考光相干涉的条件,从而解决了前后面的反射光干涉混叠问题.用虚光栅移相莫尔条纹法处理采集到的干涉图,得到位相数据,代入绝对测量法的计算公式,得出待测样品的折射率分布.对厚度为13mm、口径为75mm的光学平板玻璃进行测量.结果表明,光学均匀性检测准确度可达到2.6×10-6,被测样品折射率偏差的峰谷值为Δnpv=6.06×10-6,均方根值为Δnrms=8.96×10-7.