F/Cl比与BaFCl:Eu^(2+)中的F心

BaFCl:Eu^(2+)是一种优良的X射线存储成像材料,其X射线存储及光释光过程与晶体中的F心有紧密关系。本文制备了BaF_xCl_(2-x):Eu^(2+)系列粉末样品。利用正电子湮灭技术及光谱手段,测得这些样品的正电子湮灭谱和光激励谱。我们分解了3种不同F/Cl配比的光激励谱,得到443nm和561nm附近的2个峰,其相对强度随F/Cl比的不同发生了变化,而峰位并未改变。其实验结果表明:当其晶体中的F/Cl<1时,可以有效地产生F^-离子的空位缺陷。而当F/Cl>1时,不利于Cl^-离子空位缺陷的形成。另外,我们简单地讨论了BaF_xCl_(2-x):Eu^(2+)系列样品光激励发光强度的变化。