光热探测──一种新的无损检测技术

本文介绍激光诱发光热探测技术的基本理论和实验方法，给出这种技术在无损检测中应用的一些研究结果。

超巨磁电阻薄膜LITV信号研究

通过对LaCaMnO3、La(CaSr)MnO3、LaSrCoO3等超巨磁电阻薄膜的激光感生热电电压(LITV)效应的研究,发现这种现象是由晶体中的热电系数张量的各向异性引起的。并且由于不同CMR薄膜材料LITV信号的响应时间不同,且其LITV信号峰值与激光功率/能量成很好的线性关系,可以用来制作不同的快响应光热探测器件。

一种新的光热干涉探测技术

提出了一种以样品前后表面反射的探测光束在远场形成干涉为基础的新的光热干涉探测技术.给出了聚焦激光束照射平板样品时两反射光束在远场形成的干涉场光强分布和调制光束加热时的光热干涉信号表达式.光强分布和实验测量结果一致.并以氟铝酸盐玻璃平板为样品进行了光热实验.还讨论了该光热方法作为一种灵敏的检测技术在光学材料特性、弱吸收测量以及微体积痕量分析等方面的应用前景.