期刊文献+
共找到4篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
铝基复合材料胀形位移的光电探测法
1
作者 刘建业 骆飞 +1 位作者 宋莉 高霖 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第5期544-546,550,共4页
1引言铝基复合材料重量轻、强度和刚度高、耐腐蚀、耐磨损,在温度变化时有较高的化学和尺寸稳定性,在航空航天和核能利用等领域具有广泛的应用前景。为研究铝基复合材料的热膨胀系数和热稳定性能及强度,要对其进行胀形试验。胀形试... 1引言铝基复合材料重量轻、强度和刚度高、耐腐蚀、耐磨损,在温度变化时有较高的化学和尺寸稳定性,在航空航天和核能利用等领域具有广泛的应用前景。为研究铝基复合材料的热膨胀系数和热稳定性能及强度,要对其进行胀形试验。胀形试验采用的试件是增强物为sic晶须的... 展开更多
关键词 复合材料 铝基 胀形位移 光电探测法 胀形试验
下载PDF
一种测量焦距的新方法—谱面光电探测法
2
作者 吕如寿 陈志靖 《光仪技术》 1991年第3期22-26,共5页
关键词 光电探测法 焦距 测量 谱面
下载PDF
碲镉汞薄膜少子寿命测试研究
3
作者 折伟林 申晨 +3 位作者 李乾 刘铭 李达 师景霞 《红外》 CAS 2021年第6期1-6,共6页
碲镉汞(HgCdTe)材料的少子寿命是影响碲镉汞红外探测器性能的重要参数。分别采用微波光电导衰减(Microwave Photoconductivity Decay,-PCD)法和微波探测光电导(Microwave Detected Photoconductivity,MDP)法对HgCdTe薄膜的少子寿命进行... 碲镉汞(HgCdTe)材料的少子寿命是影响碲镉汞红外探测器性能的重要参数。分别采用微波光电导衰减(Microwave Photoconductivity Decay,-PCD)法和微波探测光电导(Microwave Detected Photoconductivity,MDP)法对HgCdTe薄膜的少子寿命进行了研究。结果表明,随着激光功率的增强,样品的少子寿命降低;由于载流子复合机制的变化,HgCdTe薄膜的少子寿命随温度的增加有先增后减的趋势。通过HgCdTe薄膜少子寿命面分布可以得出样品不同区域的载流子浓度分布与均匀性。对于HgCdTe薄膜材料来说,以上两种测试结果的面分布状况相近。 展开更多
关键词 碲镉汞 少子寿命 微波光电导衰减 微波探测光电
下载PDF
New Compensated Method to the Phase for a Bulk Optic Faraday Current Sensor
4
作者 HE Saixian ZHONG Sidong +1 位作者 YU Mozhi HU Youlin(Wuhan Technology University or Surveying and Mapping, Wuhan 430070, CHN) 《Semiconductor Photonics and Technology》 CAS 1996年第1期57-60,共4页
A new method to reduce the reflection-induced phase between the two orthogonal components of the linearly polarized light after the reflections is presented. This kind of sensor head is easier to fabricate and adjust ... A new method to reduce the reflection-induced phase between the two orthogonal components of the linearly polarized light after the reflections is presented. This kind of sensor head is easier to fabricate and adjust than that whose internal reflection is at critical angle. 展开更多
关键词 Optical Sensors Sensing Materials Semiconductor Lasers PHOTODETECTORS
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部