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快速退火对直流磁控溅射法制备的AZO薄膜性能的影响 被引量:6
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作者 姜丽莉 辛艳青 +3 位作者 宋淑梅 杨田林 李延辉 韩圣浩 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第3期302-305,共4页
在室温下,采用直流磁控溅射方法制备了不同厚度的氧化锌掺铝薄膜,并对样品进行了快速退火处理,退火温度为600℃,时间为60 s。研究了退火前后薄膜的结构、光电特性的变化情况。退火后,薄膜的最小电阻率为4.2×10-4Ω.cm,其透过率为90... 在室温下,采用直流磁控溅射方法制备了不同厚度的氧化锌掺铝薄膜,并对样品进行了快速退火处理,退火温度为600℃,时间为60 s。研究了退火前后薄膜的结构、光电特性的变化情况。退火后,薄膜的最小电阻率为4.2×10-4Ω.cm,其透过率为90.1%。禁带宽度由退火前的3.68 eV变为3.75 eV。 展开更多
关键词 快速退火 直流磁控溅射 AZO薄膜 光电特性禁带宽度
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