强度调制光纤位姿传感器的检测性能提高技术

本文研究了强度调制光纤传感器的反射信号检测技术,提出基于自扫描光电二极管阵列(SSPA)取样积分的时域光强检测方法,它具有信号处理简单,有效抑制环境光和电路背景噪声影响的特点,该方法的实施有效地提高了强度调制传感器的测量精度和稳定性。