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基于光斑场检测的亚微米级光纤微弯曲传感器
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作者 张淑清 郑德忠 史锦珊 《传感技术学报》 CAS CSCD 1999年第4期234-239,共6页
本文介绍一种基于光斑场检测的光纤传感技术，通过光斑场的强度内积（ＮＩＰ）计算来表征被测位移．它既保证了强度调制式光纤传感器结构简单、易于实现的优点，又具有与干涉型光纤传感器同一数量级的灵敏度．文中给出了 ＮＩＰ计算方... 本文介绍一种基于光斑场检测的光纤传感技术，通过光斑场的强度内积（ＮＩＰ）计算来表征被测位移．它既保证了强度调制式光纤传感器结构简单、易于实现的优点，又具有与干涉型光纤传感器同一数量级的灵敏度．文中给出了 ＮＩＰ计算方法，分析了灵敏度和动态范围，理论分析与实验结果基本一致，位移灵敏度可达亚微米数量级，位移测量范围为６ μｍ． 展开更多
关键词 亚微米位移传感器 光纤传感技术 光斑场 光纤内积
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