制导光缆中光纤寿命预期

介绍了光纤寿命预期的疲劳实验方法和筛选实验方法。采用这两种方法,利用电子万能材料试验机和光纤筛选复绕机对室温下光纤进行了疲劳性能实验。实验得出,在张力小于850 g的情况下,制导光纤的寿命可以达到10年以上;光纤的韦伯参数md和疲劳参数nd的大小影响光纤寿命。实验表明,当光纤的使用状态受力较大时,或使用贮存状态相差较大时,宜选用动态方法进行寿命预期;当贮存和使用状态受力变化不大时,宜选用筛选复绕方法预期光纤寿命。制导光纤寿命模型宜选用动态疲劳模型,通信光纤可选用筛选实验模型。实验还表明,提高光纤的抗疲劳因子nd和减小光缆中光纤的应变,可以更好地保持光缆中光纤的使用寿命和可靠性。