基于激光半导体技术的光纤点式测温系统

本文研究基于激光半导体技术的光纤点式测温系统。利用半导体材料随温度的变化,其折射率发生变化这一原理,成功地开发出了样机系统,并将该系统应用于高压开关柜内的电缆接头、动、静触点等易发热的接触点处的温度检测。该系统的探头部分采用全光设计,抗电磁干扰,耐高压;主机部分带有RS485接口,采用Modbus工业协议,方便多台主机进行组网。多次试验结果表明,该系统测温精度高,为±1℃;测温范围为-10℃-120℃。