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一种陶瓷插芯内光纤断点的检测方法 被引量:4
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作者 高泽仁 周丰 刘楠 《半导体光电》 CAS 北大核心 2018年第4期494-496,共3页
提出了一种通过白光干涉仪来检测陶瓷插芯中光纤是否存在断点的方法。通过使用白光干涉仪使陶瓷端面和插芯内光纤断点处两个表面的反射光分别与扫描臂上反射镜的反射光发生干涉,然后,根据两条干涉条纹的强度和间距,便可检测出陶瓷插芯... 提出了一种通过白光干涉仪来检测陶瓷插芯中光纤是否存在断点的方法。通过使用白光干涉仪使陶瓷端面和插芯内光纤断点处两个表面的反射光分别与扫描臂上反射镜的反射光发生干涉,然后,根据两条干涉条纹的强度和间距,便可检测出陶瓷插芯内是否有光纤断点以及陶瓷插芯内断点离光纤连接头端面的位置。试验结果表明,该方法的测量灵敏度可达0.03mm。此方法非常适用于检测生产和使用过程中的光纤/光缆连接器陶瓷插芯中的光纤是否存在断点,并进行精确的分析,保证连接器的质量及可靠性,具有准确性高、操作简单的特点。 展开更多
关键词 光缆连接头 陶瓷插芯 光纤断点检测 白光干涉
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