基于低频噪声检测光耦器件可靠性的频域筛选方法

针对光耦器件可靠性筛选,提出全频段阈值筛选方法检测光耦器件内部低频噪声。根据光耦器件内部的低频噪声完成光耦器件可靠性的筛选。实验中利用光耦器件测试系统检测200只光耦器件内部的低频噪声,计算这200只光耦器件全频段平均噪声谱,确定筛选的阈值,再根据光耦器件可靠性分类标准,判断被测器件可靠性等级。

基于噪声奇异性的光耦器件爆裂噪声检测新法

为了准确客观地检测出爆裂噪声的存在,提出了基于噪声信号奇异性的光耦器件爆裂噪声检测方法。通过对光耦器件噪声样本的计算发现,含有大量爆裂噪声的样本,其平均Hlder指数接近于0,反映到局部奇异性指数分布直方图中,其最可几率所对应的h值也在0值附近。而不含爆裂噪声的样本平均Hlder指数则在-0·3附近。实验证实了奇异性检测方法可以明晰地区分良品组与次品组光耦器件。噪声奇异性参数可以作为爆裂噪声是否存在的客观依据。