微控制器下的光耦参数特性测试仪的设计

基于图形化编程语言Lab VIEW,配合计算机和单片机通讯电路所组成的一个微控制器测试仪,用于测量和采集光耦特性数据,传输到计算机中利用Lab VIEW显示该光耦器件参数特性,并保存到PC机上。