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Cd_(1-x)Zn_xTe晶片室温显微光致发光平面扫描谱
1
作者 刘劼 《红外》 CAS 2003年第12期24-28,共5页
主要介绍用微米级空间分辨率的显微光致发光(μ-PL)平面扫描谱对CdZnTe(CZT)晶片表面亚微米层特性进行的研究。
关键词 碲锌镉晶体 半导体材料 光致发光模型 分辨率 平面扫描谱 等效温度分布
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