卡尔曼滤波ICP－AES法分析稀土元素及其对光谱干扰的校正

本文以卡尔曼（Ｋａｌｍａｎ）滤波ＩＣＰ－ＡＥＳ法进行稀土元素分析，并研究了卡尔曼滤波对其光谱干扰的校正，以及富线基体元素对待测元素、待测元素之间的影响，考察了该方法的检出限、精密度和准确度以及影响滤波的因素。结果表明，该法能有效地消除和校正光谱干扰，减少对分析谱线的选择，改善分析的检出限，分析速度快，结果准确可靠，可适合各种稀土试样（高纯稀土、混合稀土）的日常分析。

ICP-AES直接测定土壤、沉积物中常、微量元素的光谱干扰和校正方法研究

本文研究了感耦等离子体原子发射光谱 (ICP AES)法直接测定土壤、沉积物中常、微量元素的光谱干扰 ,以及用多元光谱拟合 (MSF)校正的方法。讨论了积分时间及谱线漂移对MSF法的影响。比较了离峰扣背景法与MSF法的效果 ,对水系沉积物GBW 0 73 0 6测定结果表明 ,MSF法得出的结果更接近推荐值 ,且其检出限及相对标准偏差比离峰扣背景法分别改善了 1 3～ 9 0倍和 1 1～ 4 9倍。

电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的光谱干扰及其校正的研究进展

对电感耦合等离子体原子发射光谱法分析中的光谱干扰来源(包括谱线重叠干扰和背景干扰)及其校正方法(仪器装置的改进、选择合适的分析线、背景校正法、干扰系数校正法、标准加入法、谱线拟合法、卡尔曼滤波法和导数光谱法等)的研究进展进行了综述(引用文献58篇)。

稀土元素原子发射光谱及其谱线干扰的高分辨率ICP-AES研究——Ⅵ.镧、铽、钬、铒基体对其他稀土元素的光谱干扰

利用光栅刻线为 3 6 0 0条 /mm的高分辨率时序扫描式ICP AES光谱仪研究镧 (La)、铽 (Tb)、钬(Ho)、铒 (Er)基体分别对其他 14个稀土元素共 6 5条“首选分析线”的光谱干扰情况。获得了相应的光谱干扰轮廓和稀土光谱干扰信息 ,为选择在该 4种稀土基体中的其他稀土元素ICP AES最佳分析线提供了参考。

电感耦合等离子体原子发射光谱法定量测试明胶中的微量元素Co和Bi——应用IEC模型校正Fe对Co的光谱干扰

应用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICPAES),建立了定量测试明胶中微量金属元素Co,Bi的方法。采用湿法消解对明胶样品进行了前处理,对仪器的测试条件进行了优化。讨论了用ICPAES同时测定明胶中Co和Bi时,应用光谱干扰系数校正法(IEC)模型校正了Fe在特定波长下对Co的光谱干扰。结果表明,Fe对Co的光谱干扰可以应用IEC模型进行有效的消除,进行光谱校正后的结果明显优于未加校正的实验结果。建立的方法准确、快速、高效、线性范围宽。被测元素工作曲线的线性相关系数r≥099990。结果的相对标准偏差RSD%≤200。加标回收率为98%～107%。

稀土元素原子发射光谱及其谱线干扰的高分辨率ICP-AES研究 Ⅴ.镥、铥、钇、镱基体对其他稀土元素的光谱干扰

本文是系列工作的第五部分。利用光栅刻线为 36 0 0条·mm-1的高分辨率单道扫描ICP AES光谱仪 ,研究了镥 (Lu)、铥 (Tm)、钇 (Y)、镱 (Yb)基体分别对其他 14个稀土元素共 6 6条“首选分析线”的光谱干扰情况 ,获得了相应的光谱干扰轮廓和稀土光谱干扰信息。计算了“Q”值和“实际检测限” 。

基体匹配法和内标法-电感耦合等离子体原子发射光谱测定铸造锌合金中高含量铝和铜光谱干扰校正的比较

从铸造锌合金中铝和铜含量的测定准确度、精密度和回收率方面,比较了用基体匹配法和内标法校正电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法测定铸造锌合金中高含量铝和铜的光谱干扰效果。结果表明:基体匹配法在测定铸造锌合金中铝的相对误差小于0.4%,较内标法低,回收率稳定在105%~108%之间;内标法测定铝和铜时的相对标准偏差在0.2%~0.5%之间,明显低于基体匹配法,其中以钪(Sc)作为内标元素测定铜的准确度、精密度和回收率均较高,而以Y作为内标元素测定铝的效果较好。

人工神经网络法校正ICP┐AES中重叠光谱干扰

本文将反向传播人工神经网络（ＢＰ－ＡＮＮ）用于ＩＣＰ－ＡＥＳ中重叠光谱干扰的校正。利用模拟的Ｃｅ４１３．３８０ｎｍ和Ｐｒ４１３．３６１ｎｍ光谱对神经网络的训练方式、输入值范围、噪声影响等作了较详细的讨论。

ICP-AES分析法中铁基体非光谱干扰效应的机理研究

采用电感耦合等离子体发射光谱法研究了浓度为0~5 mg.mL-1的铁基体的非光谱干扰效应。通过计算干扰函数各项的数值及考察各项数值与铁基体浓度的对应关系,初步探讨了铁的非光谱干扰的一些规律,发现铁基体浓度变化对激发温度、电子数密度和电离度并无显著影响,绝大部份分析元素谱线的活度系数项都随铁基体浓度升高而降低,而干扰函数各项对干扰函数的贡献情况,则因离子线和原子线而异,造成这种情况的原因在于二者的电离因子项存在明显的差别。

相互干扰系数法校正ICP-AES多元素同时分析的光谱干扰

提出了一种相互干扰系数法校正ＩＣＰＡＥＳ多元素同时分析的光谱干扰方法。该方法把分析对象视为所有组分之间都相互关联的体系，并选择严密的数学模型来校正复杂组分间的相互干扰。

铁在端视ICP-AES中的光谱干扰与校正

从信背比、干扰等效浓度、干扰校正因子几方面讨论了铁对多种元素的干扰 ,提出了干扰校正方法 ,用于实际样品测定 ,结果满意。

ICP-AES中光谱干扰校正方法

本文简述了几种常用的光谱干扰校正法:空白背景校正法、动态背景扣除法和干扰系数校正法,并在国产的ICP-AES 7502型光量计上实现了简便而有效的校正。

校正电感耦合等离子体原子发射光谱中光谱干扰的一种新方法

本文在研究ICP-AES光谱干扰谱图特性的基础上,采用M个单一Gaussian(Lorentzian或Pseudo Voigt)曲线与二次函数背景的相加作为光谱干扰的数学模型函数。从而将发射光谱干扰的校正问题,转化为如何根据实际情况完成的波形分解问题。并以非线性最小二乘算法为基础,用加约束条件、加权及绝对值变换使此有约束规划问题转化成等价的无约束规划问题,从而提出了一种新的算法。本文对典型的谱线重叠给出了计算机模拟结果,还对实测干扰谱图进行了校正处理。

ICP-AES中光谱干扰的计算机模拟——Ⅰ.基本原理

在ICP-AES中,光谱干扰一直是分析者试图克服的主要问题之一,其中较为明显的是光谱线重叠干扰。此类干扰导致分析选择性差、检出限升高。因此在对复杂基体或含有富线主成份的样品进行分析时应充分考虑光谱线重叠的可能性。谱线重叠主要包括直接重叠及分析线附近强线变宽导致的线翼重叠。在以往的光谱分析中,判断某一分析线是否受到谱线干扰主要有两种途径。

稀土元素原子发射光谱及其谱线干扰的高分辨率ICP-AES研究 Ⅳ铕、钆基体对其他稀土元素的光谱干扰

本文是系列工作的第四部分。利用光栅刻线为 3 60 0条 /mm的顺序扫描高分辨率ICP AES光谱仪研究了铕 (Eu)和钆 (Gd)分别作为基体时对其他 14个稀土元素共 66条“首选分析线”的光谱干扰情况 ,获得了相应的光谱干扰轮廓和其他光谱干扰信息 。

高纯金属铈的ICP-AES分析和稀土元素间的光谱干扰及其校正

本文采用乙醇预去溶方式进样,ICP-AES直接同时测定了>99.99%的高纯金属铈中5个痕量稀土杂质元素,并讨论了基体量对检测限的影响,稀土元素间的光谱干扰及其校正方法等。当样品溶液中铈的浓度为5mg/ml时,铈中稀土杂质元素的测定下限为:镧、钕和钇0.001%,镨和钐0.003%。其相对标准偏差为1.9～6.4%。

ICP-AES中四十种常见元素光谱干扰的研究及校正

本文用Leeman Plasma-Spec等离子光谱仪对常见四十种元素的光谱进行了探讨,测定了其光谱干扰系数,并对干扰系数校正法进行了研究。

高纯氧化镝电感耦合等离子体原子发射光谱法摄谱分析时光谱干扰校正方法的研究

本文建立了高纯氧化镝样品ICP摄谱分析时干扰系数法校正光谱干扰的方法。测定了镝基体对14种稀土杂质元素20条灵敏分析线的干扰系数(KCT)。并有效地校正了镝基体造成的光谱干扰,获得满意的结果。

ICP-AES中光谱干扰的计算机模拟——Ⅲ.有效谱线轮廓模型的建立

本文首先通过Voigt函数描述ICP-AES的仪器轮廓,经过解卷积从中分出一个Gauss成分和一个Lorentz成分,两种成分的比例由一个参数a_1决定;将Gauss成分与Doppler变宽轮廓进行二次卷积,Lorentz成分与碰撞变宽轮廓进行线性卷积,并将表征谱线有效轮廓的Voigt函数展开为Whiting近似式,从而实现了对谱线轮廓的快速计算。通过与实验扫描光谱进行对比,表明ICP-AES的仪器轮廓基本属于Vloigt轮廓的一种极端情形——Gauss轮廓。

电感耦合等离子体原子发射光谱分析中光谱干扰校正卡尔曼滤波法研究

本文利用电感耦合等离子体原子发射光谱多色仪的扫描功能，用卡尔曼滤波法对各种光谱干扰进行校正。结果表明，该法能处理各种类型光谱干扰，不需要样品基体匹配，其测定回收率明显优于在峰法和离峰法，具有简便、准确等优点。