粒子图像测速技术测量精度影响因素分析

对基于粒子图像测速(PIV)技术的瞬时全流场测量方法进行了综述。系统介绍了PIV的工作原理、技术的关键环节(获取图像的品质)和影响测量精度主要因素(示踪粒子性能、光源性能、背景噪声、成像畸变、同步器时间分辨率及图像处理算法)。基于这些分析,给出了示踪粒子性能的保障、成像组件的选择以及图像处理方法确定的具体建议。