期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
全耗尽绝缘层上硅技术及生态环境简介
1
作者 赵晓松 顾祥 +2 位作者 张庆东 吴建伟 洪根深 《电子与封装》 2022年第6期77-85,共9页
随着半导体技术节点微缩到3 nm及以下,晶体管的尺寸难以进一步缩小,导致了成本优势的减小。功能性和功耗成为物联网、可穿戴设备、汽车电子等应用的主要关注点,为满足这些需求,全耗尽绝缘层上硅(Fully Depleted Silicon on Insulator,FD... 随着半导体技术节点微缩到3 nm及以下,晶体管的尺寸难以进一步缩小,导致了成本优势的减小。功能性和功耗成为物联网、可穿戴设备、汽车电子等应用的主要关注点,为满足这些需求,全耗尽绝缘层上硅(Fully Depleted Silicon on Insulator,FDSOI)技术被进一步研发和产品化。对FDSOI技术的特点和生态环境进行了总结。FDSOI利用体偏置平衡功耗与性能,采用应力优化提高迁移率,通过减薄硅膜厚度抑制短沟道效应并减小寄生电容,因此被应用到低功耗处理器、低噪声放大器、嵌入式存储器等低功耗产品。FDSOI具有巨大的市场潜力,将成为半导体技术一个重要的发展方向。 展开更多
关键词 全耗尽绝缘层上硅 超薄埋氧 体偏置
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部