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基于Bose-Lin码的组合电路容错设计
1
作者
李明
肖桂军
韩彤辉
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2007年第7期190-193,共4页
应用Bose-Lin码实现了特定功能的组合电路容错设计,并采取在输入输出端加入缓存的方法,当电路出现故障时可以使系统恢复正常工作。为了方便电路的扩展,还进一步优化了输入输出端缓存的结构。
关键词
全自检
(
tsc
)
t个单向错误检测(t—UED)
偶发性单向错误检测(BUED)
双轨检测器
下载PDF
职称材料
题名
基于Bose-Lin码的组合电路容错设计
1
作者
李明
肖桂军
韩彤辉
机构
上海大学微电子研究与开发中心
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2007年第7期190-193,共4页
文摘
应用Bose-Lin码实现了特定功能的组合电路容错设计,并采取在输入输出端加入缓存的方法,当电路出现故障时可以使系统恢复正常工作。为了方便电路的扩展,还进一步优化了输入输出端缓存的结构。
关键词
全自检
(
tsc
)
t个单向错误检测(t—UED)
偶发性单向错误检测(BUED)
双轨检测器
Keywords
totally self-checking
t-unidirectional error detecting
burst unidirectional error detecting
two-rail checker
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于Bose-Lin码的组合电路容错设计
李明
肖桂军
韩彤辉
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2007
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