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基于Bose-Lin码的组合电路容错设计
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作者 李明 肖桂军 韩彤辉 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2007年第7期190-193,共4页
应用Bose-Lin码实现了特定功能的组合电路容错设计,并采取在输入输出端加入缓存的方法,当电路出现故障时可以使系统恢复正常工作。为了方便电路的扩展,还进一步优化了输入输出端缓存的结构。
关键词 全自检(tsc) t个单向错误检测(t—UED) 偶发性单向错误检测(BUED) 双轨检测器
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