关于加工中公差尺寸偏移控制的研究与探讨

由于存在尺寸的上、下偏差,因此合格的零件也可能造成装配质量低下。本文对此现象进行了分析,并提出以公差中心尺寸控制法来替代原先双界限控制法。用工艺能力等级为依据,以提高工件加工精度为代价,来获得较高的装配质量。