角反射器阵列作为伪相位共轭器件的保真度分析

研究了共光路共模块自适应光学系统中用角反射器阵列构成伪相位共轭器件 ,角反射器阵列形成伪相位共轭波的能力 ,具体计算了不同单元数的角反射器阵列形成具有 Zernike多项式展开的各阶像差的波面的相位共轭波的保真度。角反射器阵列的保真度决定于其单元数和阵列结构 ,对于不同类型的像差保真度也是不同的。最后还对各种影响因素如衍射。

共光路/共模块自适应光学数据融合方法

研究了在CP/CM系统中 ,两个哈特曼夏克波前传感器用于控制一套波前校正器件的几种数据融合方法 ,通过复原矩阵的条件数分析了斜率数据向量的扰动和复原矩阵的扰动对系统控制电压的影响 ,得到了相应的公式。实现了CP/CM自适应光学闭环实验 ,并且利用实际系统比较了几种数据融合方法 ,认为现有工程技术条件下 ,加修正因子斜率融合和电压融合是可行的办法 ,二者在控制电压的得到上是等价的 ,不同之处将表现在波前处理机。

两种自适应光学系统中哈特曼波前传感器与变形镜的对准误差

利用直接波前斜率法和变形镜的电压 -面形响应特性 ,研究了常规自适应光学系统和共光路 /共模块 (CP/CM)自适应光学系统中哈特曼波前传感器与变形镜的对准误差。常规自适应光学系统中 ,可以用重新测量变形镜的影响函数以减小对准误差的影响 ,虽并不能消除其影响 ,但系统都会有很大的调整容差 ;共光路 /共模块自适应光学系统中采用不同的双哈特曼数据处理方法 ,哈特曼波前传感器与变形镜的对准精度对系统校正能力影响是不同的 ,采用加修正因子斜率融合法和电压融合法由于在数据融合时考虑了两台哈特曼传感器与变形镜对准的差异 ,所以对准误差的影响与在常规自适应光学中相同 ,系统都会有很大的调整容差 ,而采用直接斜率融合法的共光路 /共模块系统由于是建立在两台哈特曼传感器完全一致的假设基础上 ,所以对对准精度的要求是很高的。分析过程中给出了相应的数值计算结果。