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ATE中的浮动V/I源
被引量:
2
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作者
孙铣
《中国集成电路》
2011年第11期55-63,共9页
本文论述了浮动V/I源和共地V/I源的构造区别,及在开尔文检测和多工位并测方面的差异,论述了浮动V/I源的各种类型和应用优势,并分析了浮动V/I源的共模干扰和与此相关的一些认识误区。关键词:浮动V/I源;共地V/I源;多工位并测;
关键词
浮动
v/i
源
共地v/i源
多工位并测
共
模干扰
下载PDF
职称材料
题名
ATE中的浮动V/I源
被引量:
2
1
作者
孙铣
机构
北京华峰测控技术有限公司
出处
《中国集成电路》
2011年第11期55-63,共9页
文摘
本文论述了浮动V/I源和共地V/I源的构造区别,及在开尔文检测和多工位并测方面的差异,论述了浮动V/I源的各种类型和应用优势,并分析了浮动V/I源的共模干扰和与此相关的一些认识误区。关键词:浮动V/I源;共地V/I源;多工位并测;
关键词
浮动
v/i
源
共地v/i源
多工位并测
共
模干扰
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
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被引量
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1
ATE中的浮动V/I源
孙铣
《中国集成电路》
2011
2
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