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MOCVD生长GaN材料p型掺杂最新进展
被引量:
2
1
作者
赵浙
叶志镇
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
2004年第8期4-6,共3页
p型GaN薄膜的实现是发展光电器件的关键工艺。使用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)方法已经获得实用性的p型掺杂,但是其电学和光学特性都不能让人满意。最近几年在掺杂工艺的改进和掺杂模型的理论研究方面都取得了显著进展。介绍了p型掺...
p型GaN薄膜的实现是发展光电器件的关键工艺。使用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)方法已经获得实用性的p型掺杂,但是其电学和光学特性都不能让人满意。最近几年在掺杂工艺的改进和掺杂模型的理论研究方面都取得了显著进展。介绍了p型掺杂GaN中的自补偿模型、共掺杂工艺的原理和进展、PL谱的性质以及一些新的掺杂工艺。
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关键词
P型GaN薄膜
MOCVD
P型
掺杂
光电器件
自补偿模型
共掺杂工艺
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职称材料
题名
MOCVD生长GaN材料p型掺杂最新进展
被引量:
2
1
作者
赵浙
叶志镇
机构
浙江大学硅材料国家重点实验室
出处
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
2004年第8期4-6,共3页
基金
国家重大基础研究项目基金资助(No:G20000683-06)
文摘
p型GaN薄膜的实现是发展光电器件的关键工艺。使用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)方法已经获得实用性的p型掺杂,但是其电学和光学特性都不能让人满意。最近几年在掺杂工艺的改进和掺杂模型的理论研究方面都取得了显著进展。介绍了p型掺杂GaN中的自补偿模型、共掺杂工艺的原理和进展、PL谱的性质以及一些新的掺杂工艺。
关键词
P型GaN薄膜
MOCVD
P型
掺杂
光电器件
自补偿模型
共掺杂工艺
Keywords
GaN thin film
p-doping
review
self-compensation model
codoping process
分类号
TN304.2 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
MOCVD生长GaN材料p型掺杂最新进展
赵浙
叶志镇
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
2004
2
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