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厚膜HIC共晶焊工艺研究
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作者 夏俊生 《集成电路通讯》 2005年第3期1-7,共7页
介绍了厚膜HIC中芯片与基板、基板与外壳共晶焊研究、共晶焊返工和可靠性研究的主要内容和研究结果,阐明了为保证共晶焊质量和可靠性所应采取的工艺控制方法和措施。
关键词 共晶 共晶焊片 共晶参数 外观质量 剪切强度 可靠性 抗高过载 厚膜HIC 工艺研究 可靠性研究
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