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厚膜HIC共晶焊工艺研究
1
作者
夏俊生
《集成电路通讯》
2005年第3期1-7,共7页
介绍了厚膜HIC中芯片与基板、基板与外壳共晶焊研究、共晶焊返工和可靠性研究的主要内容和研究结果,阐明了为保证共晶焊质量和可靠性所应采取的工艺控制方法和措施。
关键词
共晶
焊
共晶焊片
共晶
焊
参数
外观质量
芯
片
剪切强度
可靠性
抗高过载
厚膜HIC
工艺研究
可靠性研究
下载PDF
职称材料
题名
厚膜HIC共晶焊工艺研究
1
作者
夏俊生
机构
中国兵器工业第
出处
《集成电路通讯》
2005年第3期1-7,共7页
文摘
介绍了厚膜HIC中芯片与基板、基板与外壳共晶焊研究、共晶焊返工和可靠性研究的主要内容和研究结果,阐明了为保证共晶焊质量和可靠性所应采取的工艺控制方法和措施。
关键词
共晶
焊
共晶焊片
共晶
焊
参数
外观质量
芯
片
剪切强度
可靠性
抗高过载
厚膜HIC
工艺研究
可靠性研究
分类号
TN452 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
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1
厚膜HIC共晶焊工艺研究
夏俊生
《集成电路通讯》
2005
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