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共焦扫描显微成象的光学断层平面分辨率与信噪比之间的关系
被引量:
7
1
作者
高万荣
陶纯堪
杨晓春
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期730-735,共6页
在 Fried的一维分辨度理论的基础上 ,系统地讨论了光学成象系统两维分辨率与信噪比之间的定量关系 ,并以反射式共焦显微成象为例 ,建立了实际显微成象系统分辨率的定量计算方法 .
关键词
分辨率
信噪比
显
微
成像
光学
成像
系统
共焦扫描显微成像
光学断层平面
下载PDF
职称材料
题名
共焦扫描显微成象的光学断层平面分辨率与信噪比之间的关系
被引量:
7
1
作者
高万荣
陶纯堪
杨晓春
机构
南京理工大学电光学院
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期730-735,共6页
基金
南京理工大学青年基金资助项目
文摘
在 Fried的一维分辨度理论的基础上 ,系统地讨论了光学成象系统两维分辨率与信噪比之间的定量关系 ,并以反射式共焦显微成象为例 ,建立了实际显微成象系统分辨率的定量计算方法 .
关键词
分辨率
信噪比
显
微
成像
光学
成像
系统
共焦扫描显微成像
光学断层平面
Keywords
Resolution
Signal to noise
Microscopy
分类号
TH742 [机械工程—光学工程]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
共焦扫描显微成象的光学断层平面分辨率与信噪比之间的关系
高万荣
陶纯堪
杨晓春
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
7
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