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一种新结构自愈式高储能密度脉冲电容器的实验研究
被引量:
5
1
作者
王科
杨兰均
+2 位作者
张乔根
许继业
金玲
《高压电器》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第6期445-448,共4页
研制了一种金属化膜脉冲电容器。通过采用内串结构、选择合适的金属膜方阻值,提高了电容器的储能密度。而通过改变金属膜方阻值的大小以及对电极端部的加厚处理进行改进,在保持其储能密度一定的情况下,有效延长了电容器的使用寿命。寿...
研制了一种金属化膜脉冲电容器。通过采用内串结构、选择合适的金属膜方阻值,提高了电容器的储能密度。而通过改变金属膜方阻值的大小以及对电极端部的加厚处理进行改进,在保持其储能密度一定的情况下,有效延长了电容器的使用寿命。寿命试验表明,单个元件喷金层的脱落是造成电容器失效及寿命缩短的主要原因,而外层薄膜自愈严重及其中轴处的横贯内外层的自愈是造成单支元件电容量下降的主要原因。
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关键词
脉冲电容器
自愈
内串结构
方阻值
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职称材料
题名
一种新结构自愈式高储能密度脉冲电容器的实验研究
被引量:
5
1
作者
王科
杨兰均
张乔根
许继业
金玲
机构
西安交通大学电气工程学院
西安电力电容器厂
出处
《高压电器》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第6期445-448,共4页
文摘
研制了一种金属化膜脉冲电容器。通过采用内串结构、选择合适的金属膜方阻值,提高了电容器的储能密度。而通过改变金属膜方阻值的大小以及对电极端部的加厚处理进行改进,在保持其储能密度一定的情况下,有效延长了电容器的使用寿命。寿命试验表明,单个元件喷金层的脱落是造成电容器失效及寿命缩短的主要原因,而外层薄膜自愈严重及其中轴处的横贯内外层的自愈是造成单支元件电容量下降的主要原因。
关键词
脉冲电容器
自愈
内串结构
方阻值
Keywords
pulse capacitor
self-healing
inner series structure
ohm per square
分类号
TM531.2 [电气工程—电器]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种新结构自愈式高储能密度脉冲电容器的实验研究
王科
杨兰均
张乔根
许继业
金玲
《高压电器》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005
5
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