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内层开裂影响因素研究与控制要点
1
作者
刘云志
《印制电路信息》
2017年第10期58-61,共4页
内层开裂是PCB产品的重大缺陷,严重影响产品可靠性,是PCB产品在一定外界条件(主要为热冲击)下产生的内层铜与电镀铜之间产生开裂。针对此缺陷进行分析与试验,找到相关的影响因素,并进行过程控制,避免内层开裂的产生。
关键词
内层开裂
分析试验
控制要点
下载PDF
职称材料
题名
内层开裂影响因素研究与控制要点
1
作者
刘云志
机构
爱蓝天高新技术材料(大连)有限公司
出处
《印制电路信息》
2017年第10期58-61,共4页
文摘
内层开裂是PCB产品的重大缺陷,严重影响产品可靠性,是PCB产品在一定外界条件(主要为热冲击)下产生的内层铜与电镀铜之间产生开裂。针对此缺陷进行分析与试验,找到相关的影响因素,并进行过程控制,避免内层开裂的产生。
关键词
内层开裂
分析试验
控制要点
Keywords
Inner Layer Cracking
Analysis Test
Control Points
分类号
TN41 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
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作者
出处
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1
内层开裂影响因素研究与控制要点
刘云志
《印制电路信息》
2017
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