基于两维压缩特征字分析的BIST性能分析

在现代电子系统的设计过程中 ,由于对系统的可靠性和可维护性要求越来越高 ,因此必须针对具体情况设计相应的内建自检 (built-inself-testing,BIST)模块 ,从而保证系统能够进行准确的故障检测和故障定位与隔离。提出了一种基于两维压缩特征字分析的BIST方法 ,就其压缩原理和检测性能进行了详细分析。分析结果表明 ,通过时域和空域的两维压缩 ,可以用较短的特征字实现高故障覆盖率。该方法简单可靠 ,便于硬件实现。