BIST可测性设计的低功耗技术

在BIST测试过程中,测试电路的加入使得数字系统的功耗明显加大,低功耗的BIST设计得到人们的广泛关注。本文介绍几种BIST的低功耗设计技术,各种方法的综合应用会使系统的功耗指标达到最佳。

BIST技术及其在Memory中的应用

阐述内建自检测(BIST)技术的特点、结构和原理,并介绍其在Memory单元电路中的实现过程。