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基于内建自测的软错误与老化在线检测
被引量:
1
1
作者
杨叔寅
秦晨飞
+1 位作者
黄正峰
梁华国
《计算机工程》
CAS
CSCD
2012年第8期235-238,共4页
负偏置温度不稳定性为主的老化会造成时序违规故障及软错误故障。为此,提出软错误与老化在线检测器(SEAOS)。在器件正常工作的情况下,在线检测上述2种故障。复用并发内建逻辑块观察器,使得硬件开销不超过30%。实验结果表明,在0.18μm工...
负偏置温度不稳定性为主的老化会造成时序违规故障及软错误故障。为此,提出软错误与老化在线检测器(SEAOS)。在器件正常工作的情况下,在线检测上述2种故障。复用并发内建逻辑块观察器,使得硬件开销不超过30%。实验结果表明,在0.18μm工艺尺寸下,与经典检测结构相比,SEAOS有较好的检测能力,且硬件开销较少。
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关键词
软错误与老化在线检测器
老化
单事件翻转故障
复用
负偏置温度不稳定性
内建逻辑块观察器
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职称材料
一种容软错误的BIST结构
被引量:
9
2
作者
黄正峰
梁华国
+2 位作者
陈田
詹文法
孙科
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2009年第1期33-36,43,共5页
针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误可能成为芯片失效的重要原因,提出一种容软错误的BIST结构——FT-CBILBO.该结构对并发内建逻辑块观察器进行改进,通过对多输入特征寄存器进行功能复用,构建双模冗余的容错微结构,并且能有效地降...
针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误可能成为芯片失效的重要原因,提出一种容软错误的BIST结构——FT-CBILBO.该结构对并发内建逻辑块观察器进行改进,通过对多输入特征寄存器进行功能复用,构建双模冗余的容错微结构,并且能有效地降低开销;在触发器输出端插入C单元,可有效地针对单事件翻转进行防护,阻塞瞬态故障引发的软错误.在UMC0.18μm工艺下的实验结果表明,FT-CBILBO面积开销为28.37%~33.29%,性能开销为4.99%~18.20%.
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关键词
软错误
并发
内建逻辑块观察器
功能复用
C单元
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职称材料
一种基于功能复用的容错扫描链电路结构
被引量:
2
3
作者
黄正峰
刘彦斌
+1 位作者
易茂祥
梁华国
《合肥工业大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第1期53-56,共4页
由于软错误已经成为影响芯片可靠性的主导原因,文章提出一种容忍软错误的高可靠BIST结构——TMR-CBILBO。通过构建三模冗余的容错扫描链电路结构,在触发器输出端插入表决器,可有效地防护单事件翻转,容忍瞬态故障引发的软错误。以多输入...
由于软错误已经成为影响芯片可靠性的主导原因,文章提出一种容忍软错误的高可靠BIST结构——TMR-CBILBO。通过构建三模冗余的容错扫描链电路结构,在触发器输出端插入表决器,可有效地防护单事件翻转,容忍瞬态故障引发的软错误。以多输入特征寄存器的功能复用为切入点,有效地降低容错设计的面积开销。在UMC 0.18μm工艺下针对ISCAS 89基准电路的实验结果表明,TMR-CBILBO的软错误率下降95.56%~98.21%,面积开销为71.68%~84.21%,性能开销为1.75%~4.39%。
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关键词
软错误
并发
内建逻辑块观察器
功能复用
三模冗余
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职称材料
基于功能复用的抗老化BIST设计
4
作者
梁华国
黄正峰
+3 位作者
杨叔寅
徐辉
秦晨飞
李志杰
《电路与系统学报》
北大核心
2013年第1期193-198,共6页
随着不断缩小的工艺尺寸,NBTI为主导的老化因素对VLSI器件寿命的影响尤为突出。本文针对老化引起的时序违规提出了一种抗老化的结构设计TFM-CBILBO,在一种BIST结构——并发内建逻辑块观察器的基础上,复用了其中原本不工作的时序单元,根...
随着不断缩小的工艺尺寸,NBTI为主导的老化因素对VLSI器件寿命的影响尤为突出。本文针对老化引起的时序违规提出了一种抗老化的结构设计TFM-CBILBO,在一种BIST结构——并发内建逻辑块观察器的基础上,复用了其中原本不工作的时序单元,根据电路老化程度切换工作模式,有效防止时序违规的发生。在UMC0.18μm工艺下的实验结果表明,TFM-CBILBO面积开销为20.53%~3.21%,相比非时序拆借方案时延开销降低40.0%~71.6%。
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关键词
老化
并发
内建逻辑块观察器
故障掩盖
功能复用
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职称材料
题名
基于内建自测的软错误与老化在线检测
被引量:
1
1
作者
杨叔寅
秦晨飞
黄正峰
梁华国
机构
合肥工业大学计算机与信息学院
合肥工业大学电子科学与应用物理学院
出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
2012年第8期235-238,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(60876028)
教育部博士点基金资助项目(200803590006)
+3 种基金
安徽高校省级自然科学研究基金资助重点项目(KJ2010A280)
国家自然科学基金青年科学基金资助项目(61106038)
合肥工业大学博士学位人员专项基金资助项目(GDBJ2010-002)
合肥工业大学科学研究发展基金资助项目(2010HGXJ0071)
文摘
负偏置温度不稳定性为主的老化会造成时序违规故障及软错误故障。为此,提出软错误与老化在线检测器(SEAOS)。在器件正常工作的情况下,在线检测上述2种故障。复用并发内建逻辑块观察器,使得硬件开销不超过30%。实验结果表明,在0.18μm工艺尺寸下,与经典检测结构相比,SEAOS有较好的检测能力,且硬件开销较少。
关键词
软错误与老化在线检测器
老化
单事件翻转故障
复用
负偏置温度不稳定性
内建逻辑块观察器
Keywords
Soft Error and Aging Online Sensor(SEAOS)
aging
Single Event Upset(SEU) fault
reuse
Negative Bias Temperature Instability(NBTI)
Concurrent Built-in Logic Block Observer(CBILBO)
分类号
TP391.6 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
一种容软错误的BIST结构
被引量:
9
2
作者
黄正峰
梁华国
陈田
詹文法
孙科
机构
合肥工业大学计算机与信息学院
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2009年第1期33-36,43,共5页
基金
国家自然科学基金(60876028)
国家自然科学基金重点项目(60633060)
+1 种基金
安徽省教育厅自然科学项目(KJ2008B031)
安徽省高校青年教师科研资助计划项目(2006jql015)
文摘
针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误可能成为芯片失效的重要原因,提出一种容软错误的BIST结构——FT-CBILBO.该结构对并发内建逻辑块观察器进行改进,通过对多输入特征寄存器进行功能复用,构建双模冗余的容错微结构,并且能有效地降低开销;在触发器输出端插入C单元,可有效地针对单事件翻转进行防护,阻塞瞬态故障引发的软错误.在UMC0.18μm工艺下的实验结果表明,FT-CBILBO面积开销为28.37%~33.29%,性能开销为4.99%~18.20%.
关键词
软错误
并发
内建逻辑块观察器
功能复用
C单元
Keywords
soft error
CBILBO
function reuse
code word state preserving element
分类号
TP391.76 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
下载PDF
职称材料
题名
一种基于功能复用的容错扫描链电路结构
被引量:
2
3
作者
黄正峰
刘彦斌
易茂祥
梁华国
机构
合肥工业大学电子科学与应用物理学院
出处
《合肥工业大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第1期53-56,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(60876028
61106038)
+3 种基金
高等学校博士学科点专项科研基金资助项目(200803590006
20110111120012)
安徽高校省级自然科学研究重点资助项目(KJ2010A280)
合肥工业大学博士学位人员专项基金资助项目(GDBJ2010-002)和合肥工业大学科学研究发展基金资助项目(2010HGXJ0071)
文摘
由于软错误已经成为影响芯片可靠性的主导原因,文章提出一种容忍软错误的高可靠BIST结构——TMR-CBILBO。通过构建三模冗余的容错扫描链电路结构,在触发器输出端插入表决器,可有效地防护单事件翻转,容忍瞬态故障引发的软错误。以多输入特征寄存器的功能复用为切入点,有效地降低容错设计的面积开销。在UMC 0.18μm工艺下针对ISCAS 89基准电路的实验结果表明,TMR-CBILBO的软错误率下降95.56%~98.21%,面积开销为71.68%~84.21%,性能开销为1.75%~4.39%。
关键词
软错误
并发
内建逻辑块观察器
功能复用
三模冗余
Keywords
soft error
concurrent built-in logic block observer
function reuse
triple modular redundancy
分类号
TP391.76 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
下载PDF
职称材料
题名
基于功能复用的抗老化BIST设计
4
作者
梁华国
黄正峰
杨叔寅
徐辉
秦晨飞
李志杰
机构
合肥工业大学电子科学与应用物理学院
合肥工业大学计算机与信息学院
出处
《电路与系统学报》
北大核心
2013年第1期193-198,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目(61274036
61106038)
+2 种基金
博士点基金资助项目(20110111120012)
安徽高校省级自然科学研究重点项目(KJ2010A280)
安徽省高等学校省级优秀青年人才基金(2009SQRZ059)
文摘
随着不断缩小的工艺尺寸,NBTI为主导的老化因素对VLSI器件寿命的影响尤为突出。本文针对老化引起的时序违规提出了一种抗老化的结构设计TFM-CBILBO,在一种BIST结构——并发内建逻辑块观察器的基础上,复用了其中原本不工作的时序单元,根据电路老化程度切换工作模式,有效防止时序违规的发生。在UMC0.18μm工艺下的实验结果表明,TFM-CBILBO面积开销为20.53%~3.21%,相比非时序拆借方案时延开销降低40.0%~71.6%。
关键词
老化
并发
内建逻辑块观察器
故障掩盖
功能复用
Keywords
aging
concurrent built-in logic block observer
fault-masking
function reuse
分类号
TP391.76 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于内建自测的软错误与老化在线检测
杨叔寅
秦晨飞
黄正峰
梁华国
《计算机工程》
CAS
CSCD
2012
1
下载PDF
职称材料
2
一种容软错误的BIST结构
黄正峰
梁华国
陈田
詹文法
孙科
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2009
9
下载PDF
职称材料
3
一种基于功能复用的容错扫描链电路结构
黄正峰
刘彦斌
易茂祥
梁华国
《合肥工业大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2012
2
下载PDF
职称材料
4
基于功能复用的抗老化BIST设计
梁华国
黄正峰
杨叔寅
徐辉
秦晨飞
李志杰
《电路与系统学报》
北大核心
2013
0
下载PDF
职称材料
已选择
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