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内引线拉力,芯片剪切力测试:...
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作者
韩卓人
曹骥
《电子产品可靠性与环境试验》
1992年第4期65-66,59,共3页
关键词
内引线拉力
集成电路
剪切力
下载PDF
职称材料
内引线破坏性键合拉力试验失效类别及原因分析
被引量:
1
2
作者
袁亦灵
李晓红
张丽巍
《环境技术》
2017年第2期59-62,69,共5页
通过对内引线破坏性键合拉力试验中的第3、4种失效类别失效原因的案例分析,发现存在着工艺加工、原材料生产、筛选试验等方面的质量问题,对产品是否合格作出最终的结果判定。
关键词
内引线
破坏性
拉力
试验
失效类别
失效原因分析
下载PDF
职称材料
题名
内引线拉力,芯片剪切力测试:...
1
作者
韩卓人
曹骥
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1992年第4期65-66,59,共3页
关键词
内引线拉力
集成电路
剪切力
分类号
TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
内引线破坏性键合拉力试验失效类别及原因分析
被引量:
1
2
作者
袁亦灵
李晓红
张丽巍
机构
重庆大学光电工程学院
中国电子科技集团公司第二十四研究所
出处
《环境技术》
2017年第2期59-62,69,共5页
文摘
通过对内引线破坏性键合拉力试验中的第3、4种失效类别失效原因的案例分析,发现存在着工艺加工、原材料生产、筛选试验等方面的质量问题,对产品是否合格作出最终的结果判定。
关键词
内引线
破坏性
拉力
试验
失效类别
失效原因分析
Keywords
destructive internal bond pull test
failure category
failure cause analysis
分类号
TN306 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
内引线拉力,芯片剪切力测试:...
韩卓人
曹骥
《电子产品可靠性与环境试验》
1992
0
下载PDF
职称材料
2
内引线破坏性键合拉力试验失效类别及原因分析
袁亦灵
李晓红
张丽巍
《环境技术》
2017
1
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职称材料
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