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片式ZnO压敏电阻器印叠工艺对通流容量的影响 被引量：2
1
作者 曾祥明 张明 +2 位作者 赵根妹 林伟时 康雪雅 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2004年第2期16-17,共2页
通过印叠工序中,内电极烘干温度与烘干时间的试验,研究了它们对片式ZnO压敏电阻器通流容量的影响.结果表明:烘干温度与烘干时间分别为70℃与2～4 h时,产品的通流容量最大.
关键词 片式氧化锌压敏电阻器 内电极的烘干温度 内电极的烘干时间 通流容量
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