用于综合孔径成像的冗余基线校正方法

在综合孔径成像系统中,环境或载体平台振动等因素会引起综合孔径阵列中各子孔径相位误差,从而引起图像质量变差,相位误差的实时校正对于提高综合孔径系统成像质量有重要作用。冗余基线校正的方法可以实现综合孔径阵列相位误差自校正。这种方法在实际应用中不需要对目标建立模型就可以校正综合孔径系统的相位误差,并且可以应用于多种波段的综合孔径成像系统中,在空间探测和对地观测中具有广泛的应用前景。

光学综合孔径冗余基线校正法中的阵列设计

针对光学综合孔径相位校正法中的冗余基线校正法,利用矩阵论详细分析了其原理和阵列结构要求。指出该方法可以实现由仪器或传输介质等引起的相位误差的实时校正而无需建模或反复计算,但阵列结构必须含有足够多的用于校正误差的冗余信息,即相应的矩阵必须满秩且具有较小的条件数和栅距,以保证解的唯一性。在此基础上,提出新的12孔冗余阵列结构。仿真实验结果表明新阵列相应的矩阵满秩且条件数为21.3177,栅距为1/93,满足设计要求,可以用于实际应用中。

一种被动式毫米波干涉成像相位校准方法的应用及仿真

被动式毫米波孔径合成辐射计是采用稀疏的天线阵来进行干涉成像。成像中可视度的相位误差对成像质量影响很大。给出了影响可视度误差因素的分析,并对整个校准系统进行了结构建模,同时介绍了一种对可视度相位进行实时校准的方法——冗余基线校准法(Redundant Spacing Calibration,简称RSC),仿真了两种天线布局下的校准效果,证明了冗余基线校准方法对被动式毫米波干涉成像中相位误差校准的有效性。